El Laboratorio de Microscopia Electrónica de Barrido en la Facultad de Odontología, cuenta con un microscopio marca JEOL modelo JSM-IT300LV adquirido mediante el proyecto FONDEQUIP EQM130076, así como un recubridor y secador de punto crítico para la preparación de muestras.

 

                                                           Microscopio Electrónico de Barrido con análisis EDX.

 

Algunas características especiales del microscopio:
 
• Bajo Vacío extendido y variable hasta 650 Pa, lo que implica la posibilidad de observación de una amplia variedad de muestras sin necesidad de recubrimiento (análisis no destructivos).
• Dependiendo del tipo de espécimen, posibilidades de resolución de 3.0nm a 30kV, 8.0nm a 3kV y 15nm a 1kV.
• Cámara amplia y platina mecánicamente eucéntrica con 5 ejes (X = 125mm, Y = 100mm, T = -10° a +90°, R= 360°. Z = 5–80mm) con cobertura completa de muestras hasta 178 mm, acomodación de muestras hasta 300 mm y pesos de 2 Kg. Navegación en la platina mediante software con cámara digital.
• Menores tiempos de análisis debido a parámetros de operación automatizados tales como cambios de ejes de platina, haz, foco; sin la necesidad de re-alineamiento. 
• Detector retro-dispersados (BSE) para colección de imágenes en modos: Composicional (contraste elemental), Topográfico (topografía de superficie) o Sombra (mezcla de los dos modos).
• Modo STEM para posibilidad de observación de muestras en modo de transmisión.
    
Para análisis composicional el microscopio posee un detector EDX AZTec Oxford:
 
• Software para análisis elemental puntual, lineal o mapeo zonal.
• Distribución y cuantificación de elementos.
• Posibilidad de eliminación de interferentes o elementos no deseados
              
 
El laboratorio ofrece servicio de preparación de muestras de materiales inorgánicos, orgánicos o especímenes biológicos mediante metalizado de oro o carbono y secador de punto crítico.
 
 Recubridor Oro o Carbono Denton Desk V          Secador de Punto Crítico Autodsamdri - 815
 
 
 
Tarifas (*)
Sesión 1 hora microscopia SEM/EDX : 1,5 UF + IVA.
Metalizado de muestras (hasta 6 muestras) : 0,95 UF + IVA
Secado de punto crítico (máximo 4 muestras): 1,3 UF + IVA
 
(* Valores comparativamente reducidos)
 
Para reservas de servicio de análisis: [button type="Reserve aquí" target="_self" link="http://www.nanobiomat.cl/es/reserva-sem-edx.html" icon="info-sign"]Reserve aquí[/button]
 
 
 
Profesional Operador: T.M. Rocío Orellana F.
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Teléfono: 29781760
 
 
 
 
Académico Responsable: Dr. Cristian Covarrubias G.
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