Monthly Archive diciembre 2016

PorCristian Covarrubias

Microscopy SEM/EDX

The Scanning Electron Microscopy Laboratory at the Faculty of Dentistry has a JEOL microscope model JSM-IT300LV acquired through the FONDEQUIP EQM130076 project, as well as a critical point coating and dryer for the preparation of samples.

Scanning Electron Microscope with EDX analysis.

Some special features of the microscope:

• Low Vacuum extended and variable up to 650 Pa, which implies the possibility of observation of a wide variety of samples without coating (non-destructive analysis).

• Depending on the type of specimen, resolution possibilities from 3.0nm to 30kV, 8.0nm to 3kV and 15nm to 1kV. Wide chamber and 5-axis mechanically eucentric plate (X = 125mm, Y = 100mm, T = -10 ° to + 90 °, R = 360 °, Z = 5-80mm) with full sample coverage up to 178 Mm, accommodating samples up to 300 mm and weights of 2 kg. Navigation on the stage using software with digital camera.

• Reduced scanning times due to automated operation parameters such as changes in platinum, beam, focus; Without the need for re-alignment.

• Retro-scattered detector (BSE) for image collection in modes: Compositional (elemental contrast), Topographic (surface topography) or Shadow (mixed of the two modes).

• STEM mode for sample observation in transmission mode.

For compositional analysis the microscope has an EDX detector AZTec Oxford:

• Software for punctual, linear elemental analysis or zonal mapping.

• Distribution and quantification of elements.

• Ability to remove interferents or unwanted elements

The laboratory offers sample preparation services for inorganic, organic or biological specimens using gold or carbon metallization and a critical point dryer.

Gold or Carbon Coating Denton Desk V Critical Point Dryer Autodsamdri – 815

Rates (*)

Session 1 hour SEM / EDX microscopy: 1.5 UF + VAT.

Metalized samples (up to 6 samples): 0.95 UF + VAT

Critical point drying (maximum 4 samples): 1.3 UF + VAT

(* Relatively small values)

For bookings of analysis service:

Professional Operator: T.M. Rocío Orellana F.

E-mail: rorellana@odontologia.uchile.cl

Phone: 29781760

Academic Responsible: Dr. Cristian Covarrubias G.

E-mail: ccovarrubias@odontologia.uchile.cl

 

PorCristian Covarrubias

Microscopia SEM/EDX

El Laboratorio de Microscopia Electrónica de Barrido en la Facultad de Odontología, cuenta con un microscopio marca JEOL modelo JSM-IT300LV adquirido mediante el proyecto FONDEQUIP EQM130076, así como un recubridor y secador de punto crítico para la preparación de muestras.

 

                                                           Microscopio Electrónico de Barrido con análisis EDX.

 

Algunas características especiales del microscopio:
 
• Bajo Vacío extendido y variable hasta 650 Pa, lo que implica la posibilidad de observación de una amplia variedad de muestras sin necesidad de recubrimiento (análisis no destructivos).
• Dependiendo del tipo de espécimen, posibilidades de resolución de 3.0nm a 30kV, 8.0nm a 3kV y 15nm a 1kV.
• Cámara amplia y platina mecánicamente eucéntrica con 5 ejes (X = 125mm, Y = 100mm, T = -10° a +90°, R= 360°. Z = 5–80mm) con cobertura completa de muestras hasta 178 mm, acomodación de muestras hasta 300 mm y pesos de 2 Kg. Navegación en la platina mediante software con cámara digital.
• Menores tiempos de análisis debido a parámetros de operación automatizados tales como cambios de ejes de platina, haz, foco; sin la necesidad de re-alineamiento. 
• Detector retro-dispersados (BSE) para colección de imágenes en modos: Composicional (contraste elemental), Topográfico (topografía de superficie) o Sombra (mezcla de los dos modos).
• Modo STEM para posibilidad de observación de muestras en modo de transmisión.
    

Para análisis composicional el microscopio posee un detector EDX AZTec Oxford:
 
• Software para análisis elemental puntual, lineal o mapeo zonal.
• Distribución y cuantificación de elementos.
• Posibilidad de eliminación de interferentes o elementos no deseados
              

 
El laboratorio ofrece servicio de preparación de muestras de materiales inorgánicos, orgánicos o especímenes biológicos mediante metalizado de oro o carbono y secador de punto crítico.
 

 Recubridor Oro o Carbono Denton Desk V          Secador de Punto Crítico Autodsamdri – 815
 
 
 
Tarifas (*)
Sesión 1 hora microscopia SEM/EDX : 1,5 UF + IVA.
Metalizado de muestras (hasta 6 muestras) : 0,95 UF + IVA
Secado de punto crítico (máximo 4 muestras): 1,3 UF + IVA
 
(* Valores comparativamente reducidos)
 
Para reservas de servicio de análisis: [button type=”Reserve aquí” target=”_self” link=”http://www.nanobiomat.cl/es/reserva-sem-edx.html” icon=”info-sign”]Reserve aquí[/button]
 
 
 
Profesional Operador: T.M. Rocío Orellana F.
E-mail: rorellana@odontologia.uchile.cl
Teléfono: 29781760
 
 
 
 
Académico Responsable: Dr. Cristian Covarrubias G.
E-mail: ccovarrubias@odontologia.uchile.cl