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Ensayos Mecánicos

Módulo de ensayos mecánicos MICROTEST (Deben, UK). Medición de propiedades mecánicas de materiales en modo comprensión, tensión o flexión con celdas de carga de 2 N y 200 N. Equipamiento diseñado para muestras con dimensiones particularmente pequeñas y que requieren alta sensibilidad.

  • Resinas dentales
  • Adhesivos dentales
  • Fibras y estructuras frágiles
  • Alambres

Espectroscopia FTIR-ATR

Espectrómetro infrarrojo con transformadas de Fourier – Reflectancia total atenuada (FTIR – ATR), Compact Agilent Cary 630, Análisis de estructuras de muestras sólidas y líquidas. Las muestras sólidas se pueden analizar directamente y de manera no destructiva, sin la necesidad de ser peletizadas.

  • Materiales dentales poliméricos o cerámicos
  • Estructura esmalte/dentina
  • Identificación de monómero libre de resinas
  • Compuestos orgánicos. 

Microscopia SEM/EDX

El laboratorio de Microscopia Electrónica de Barrido en la Facultad de Odontología, cuenta con un microscopio marca JEOL modelo JSM-IT300LV adquirido mediante el proyecto FONDEQUIP EQM130076, así como un recubridor y secador de punto crítico para la preparación de muestras. 
Microscopio Electrónico de Barrido con análisis EDX

Algunas características especiales del microscopio:

  • Bajo vacío extendido y variable hasta 650 Pa, lo que implica la posibilidad de observación de una amplia variedad de muestras sin necesidad de recubrimiento (análisis no destructivos).
  • Dependiendo del tipo de espécimen, posibilidades de resolución de 3.0nm a 30kV, 8.0nm a 3kV y 15nm a 1kV.
  •  Cámara amplia y platina mecánicamente eurocéntrica con 5 ejes ( X = 125mm, Y = 100mm, T = -10°  a +90°, R=360°. Z = 5-80mm) con cobertura contempla de muestras hasta 178mm. acomodación de muestras hasta 300 mm y pesos de 2 Kg. Navegación en la platina mediante software con cámara digital.
  • Menores tiempos de análisis debido a parámetros de operación automatizados tales como cambios de ejes de platina, haz, foco; sin la necesidad de re-alineamiento.
  • Detector retro-dispersados (BSE) para colección de imágenes en modos: Composicional (contraste elemental), Topográfico (topografía de superficie) o Sombra (mezcla de los dos modos).
  • Moso STEM para posibilidad de observación de muestras en modo transmisión.

Para análisis composicional el microscopio posee un detector EDX AZtec Oxford:

  • Sotware para analisis elemental puntual, lineal o mapeo zonal.
  • Distribución y cuantificación de elementos.
  • Posibilidad de eliminación de interferentes o elementos no deseados.

El laboratorio ofrece servicio de preparación de muestras materiales inorgánicos, orgánicos o especímenes biológicos mediante metalizado de oro o carbono y secador de punto crítico.

Recubridor Oro o Carbono Denton Desk V.
Recubridor Oro o Carbono Denton Desk V.
Tarifas: 
  • Sesión 1 hora microscopia SEM/EDX: 1.7 UF + IVA
  • Metalizado de muestras (hasta 6 muestras): 1 UF + IVA
  • Secado de punto crítico (máximo 4 muestras): 1.4 UF + IVA

(*Valores comparativamente reducidos)

Para reservas de servicios de análisis. Contactar a:

 

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